高低温试验 ≠冷热冲击试验
在环境可靠性测试中，“冷热冲击试验"和“高低温试验"经常被提及。不少初入行业的工程师会误以为它们是同一回事，或随意替代使用。
实际上，这两者在试验目的、方式、参数要求等方面存在显著差异，若选型错误，不仅会影响产品验证结论，甚至可能导致可靠性风险。
本文以各项国际标准依据，梳理技术要点，一次性理清它们的区别。
一.冷热冲击试验：瞬间破坏、考验结构失效
冷热冲击试验是指试样在两个温差较大的环境之间进行快速切换，考察其在剧烈热胀冷缩作用下的适应性和结构可靠性。常用于焊接结构、封装材料、电子器件等应力敏感型产品的破坏性筛选或设计验证。
📘 参考标准：
《GB/T 2423.22-2012》：电工电子产品环境试验 试验N：温度变化
《IEC 60068-2-14:2009》：Test Na（快速温度变化）
《MIL-STD-883H Method 1010.8》：电子元件用温度冲击试验
二.高低温试验：缓变温度、考察老化与适应性
高低温试验是一种程序控制的缓慢升降温试验，用于评估产品在多次热应力交替作用下的疲劳老化特性，常用于整机、材料、结构件的可靠性评估。
📘 参考标准：
《GB/T 2423.1-2021》：低温试验方法（Test A）；《GB/T 2423.2-2021》：高温试验方法（Test B）
《GB/T 2423.22-2012》：温度变化（Test N）；《IEC 60068-2-14》：温度变化试验（Test Nb）
三.标准对比：冷热冲击 vs 高低温试验
四.实际测试中常见选型误区
温度循环也能看焊点开裂？
→ 由于温变过慢，高低温循环无法模拟突发热应力；焊点裂纹等需要瞬间膨胀破坏的应力条件，必须通过冷热冲击方式暴露。
冷热冲击比高低温循环更适用于各类温度试验？
→ 二者各有用途。冷热冲击用于设计极限测试或出厂前筛选，高低温循环则更适合长期老化评估。混用测试方法反而会“错杀"或“误放"问题。
五.试验箱说明：以三箱式冷热冲击试验箱为例
以下为我司SETH赛思三箱式冷热冲击试验箱参数，适用于GB/T、IEC、MIL等标准下的快速应力测试。
产品规格：SET-A3表示-40℃～+150℃/ A4表示-55℃～+150℃/A5.表示-65℃～+150℃
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型号 |
SET-A |
SET-B |
SET-C |
SET-D |
SET-G |
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内部尺寸 (W x D x H cm) |
40×35×35 |
50×50×40 |
60×50×50 |
70×60×60 |
80×70×60 |
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外部尺寸 (W x D x H cm) |
140×165×180 |
150×190×185 |
160×190×185 |
170×240×195 |
180×260×200 |
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结构 |
三箱式（预冷箱）（预热箱）（测试箱） |
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温度恢复时间 |
小于5分钟（出风口测量） |
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温度均匀度 |
≤2℃ |
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温度波动度 |
≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示 |
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温度偏差 |
±2℃ |
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测试方法 |
三箱法标准//两箱法标准 |
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冷冻系统 |
机械压缩二元式 复叠制冷方式 |
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温度范围 |
预热温度 |
+50～+200℃ |
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高温暴露 |
+50～+150℃ |
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预冷温度 |
R.T～-75℃ |
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低温暴露 |
-40℃～0℃/ -55℃～0℃/ -65℃～0℃ |
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控制器 |
中文彩色触摸屏+ PLC控制器（SETH/赛思自行开发） |
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控制方式 |
靠积分饱和PID，模糊算法 平衡式调温P.I.D + P.W.M + S.S.R |
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标准配置 |
附照明玻璃窗口1套、试品架2个、测试引线孔1个 |
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冷却方式 |
水冷（水温7℃～28℃，水压0.1～0.3Mpa），以便确保降温性能 |
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保护功能 |
漏电、短路、超温、电机过热、压缩机超压、超载、过电流保护 |
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电源电压 |
AC380V 50Hz三相四线+接地线 |
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冷热冲击是“快准狠"的破坏验证；高低温循环是“慢扎实"的长期耐久筛查。